1396/09/27
 
حوزه های فعالیت:
تحقیقات و فناوری
اشتغال و كار آفريني
آموزش
فرهنگ و هنر
 
لینک ها:
ASPxHyperLink

ASPxHyperLink

ASPxHyperLink

ASPxHyperLink

ASPxHyperLink

 
 
 
 
مهندسي و علوم>ميكروالكترونيك>
مهندسي و علوم>اپتيك>تجهیزات اپتیکی>
 
رتيكل
 
 
 
 ·   استانداردهای رعایت شده در ارتباط با محصول:   13830 - 0 MIL

 ·    توليد انواع رتيكل
         - رتيكل با الگويي از جنس  لايه نازك فلزي بر روي بستر شيشه
         - رتيكل با الگوي حك شده بر روي بستر شيشه
  
انواع رتيكل از جنس لايه نازك فلزي
   الگوي رتيكل معمولاً از جنس لايه نازك كروم سخت، اكسيد كروم، نيكل، طلا، طلا با         لايه محافظ، نقره با لايه محافظ،آلومينيوم، آلومينيوم با لايه محافظ، ژرمانيم، FTO
 
ITO,  بر روي زيرلايه شيشه اي ساخته مي شود.


انواع رتيكل از نوع حك شده بر روي بستر شيشه
 در اين نوع رتيكل، الگوي رتيكل با فرآيند حك و ايجاد شيار بر روي زيرلايه شيشه اي و        نهايتاً پر كردن اين شيارها با رنگ اپوكسي ساخته مي شود. اين رتيكل ها معمولاً در        سيستم هاي Dark Field مورد استفاده دارند.

 · كاربردها:
     مورد استفاده در تمام سيستم هاي اپتيكي(ميكروسكوپ هاي اندازه گيري، اتوكليماتورها، پي هول، شكاف) و اپتوالكترونيكي (انكودرها، رتيكل دوربين هاي ديد در شب، ردياب ها) رتيكل هيترها

 · مشخصات:
           نوع و جنس زير لايه: شيشه اپتيكي B270 ،Bk7، سيليكون، كوارتز
           عرض خط براي رتيكل با الگوي لايه نازك فلزي: 0.006 ±    mm0.001
           عرض خط براي رتيكل با الگوي حك بر روي شيشه: 0.012±      mm0.002

          

 ·   تجربیات:  
          توليد انواع رتيكل برايميكروسكوپ، تلسكوپ، اتوكليماتور، لنزومتر(تعيين فاصله                  كانوني لنز عينك)، چارت پروژكتور، شوري سنج، رفركتومتر، رتيكل هيتر


موارد قابل ارائه :
محصول تمام شده
تولید سفارشی
نمونه سازي
دانش فني
انتقال تكنولوژي خط توليد
خدمات مهندسی

واحد متولی در جهاد دانشگاهی :
واحد صنعتی شریف
سوال
 
 
 
      
 
 
 
  
بخش ها:
صنعت نفت
حمل ونقل ريلي
بيوتكنولوژي
صنايع نيروگاهي
انرژي هاي نو
 
ASPxHyperLink
ASPxHyperLink
ASPxHyperLink
 
                     Contact Us     Privacy Statement    Terms Of Use
                            Copyright @ 2008 Academic Center for Education, Culture and Research, All Rights Reserved